晶圓是半導(dǎo)體制造的核心基材,所有集成電路(IC)均構(gòu)建于晶圓之上,其質(zhì)量直接決定芯片性能、功耗和可靠性,是摩爾定律持續(xù)推進的物質(zhì)基礎(chǔ)。其中晶圓的厚度(THK)、翹曲度(Warp)和彎曲度(Bow)是直接影響工藝穩(wěn)定性和芯片良率的關(guān)鍵參數(shù):1...
SJ5700輪廓測量儀具有精度高、使用方便、功能強等優(yōu)點,能夠?qū)Ω鞣N工件輪廓進行長度、高度、間距、水平距離、垂直距離、角度、圓弧半徑等幾何參數(shù)測量。輪廓測量儀原理:輪廓測量儀是一種兩坐標(biāo)測量儀器,儀器傳感器相對被測工件表而作勻速滑行,傳感器...
SJ6000激光干涉儀產(chǎn)品具有測量精度高、測量速度快、zui高測速下分辨率高、測量范圍大等優(yōu)點。通過與不同的光學(xué)組件結(jié)合,可以實現(xiàn)對直線度、垂直度、角度、平面度、平行度等多種幾何精度的測量。在相關(guān)軟件的配合下,還可以對數(shù)控機床進行動態(tài)性能檢...
(1)指示表檢定儀在使用前,環(huán)境溫度應(yīng)盡量接近標(biāo)準(zhǔn)溫度(20℃)時進行測量。在實際工作中,實驗室應(yīng)有很好的保溫、恒溫措施,在指示表檢定儀進行檢定時,要盡量保持環(huán)境的溫度與檢定規(guī)程中所要求的溫度(一般為(20±2)℃)相一致。另...
歡迎您關(guān)注我們的微信公眾號了解更多信息
微信掃一掃